वेल्डिंग प्रक्रिया के दौरानअल्ट्रासोनिक वेल्डर, ध्वनिक प्रणाली में विद्युत संकेत इनपुट जल्दी से बदलता है, और आवृत्ति भिन्नता सीमा विस्तृत होती है।माप की गति और सटीकता में सुधार करने के लिए, सबसे पहले, तेजी से प्रतिक्रिया की गति के साथ चिप का चयन करने के लिए उपाय किए जाते हैं, और घटक के समय स्थिर और चिप के परिधीय सर्किट के फिल्टर लिंक को 0.2 एमएस से कम होने के लिए नियंत्रित किया जाता है। , ताकि यह सुनिश्चित किया जा सके कि सिस्टम का कुल प्रतिक्रिया समय 2 एमएस से कम है, और तेजी से बदलते विद्युत संकेत का पता लगाने की मांग को पूरा करता है।व्यापक आवृत्ति बैंड आयाम और सिस्टम की आवृत्ति विशेषताओं की आवश्यकता सुनिश्चित करने के लिए, उच्च परिशुद्धता और उच्च स्थिरता वाले आरसीके प्रकार प्रतिरोधी का चयन किया जाता है, जिसमें न्यूनतम परजीवी अधिष्ठापन और समाई होती है।Op-amp घटकों को 10 से अधिक के ओपन-लूप आवर्धन और 10 से कम के बंद-लूप आवर्धन के साथ चुना जाएगा। इस तरह, एक फ्लैट आयाम-आवृत्ति वक्र 0 ~ 20 kHz ± 3 kHz से प्राप्त किया जा सकता है।निम्नलिखित प्रत्येक कार्यात्मक मॉड्यूल का संक्षिप्त विवरण है।
1.1 वोल्टेज आरएमएस के वीआरएमएस का मापन
इस पेपर में विकसित परीक्षण उपकरण 0 ~ 1 000 V के RMS और 20 kHz ± 3 kHz की आवृत्ति के साथ विरूपण के साथ साइनसॉइडल वोल्टेज सिग्नल को माप सकते हैं।इनपुट वोल्टेज सिग्नल द्वारा निकाला जाता है, आरएमएस मान एसी / डीसी में परिवर्तित हो जाता है, और फिर आनुपातिक रूप से दो आउटपुट चैनलों में समायोजित किया जाता है।परीक्षक के सामने के पैनल पर 3-बिट सेमी-डिजिटल मीटर हेड को एक चैनल की आपूर्ति की जाती है, जो सीधे 0-1 000 वी वोल्टेज के आरएमएस मान को प्रदर्शित करता है।दूसरा कंप्यूटर द्वारा डेटा अधिग्रहण और विश्लेषण के लिए परीक्षक के बैक पैनल के माध्यम से 0 ~ 10 वी एनालॉग वोल्टेज सिग्नल आउटपुट करता है।
वोल्टेज सिग्नल को वोल्टेज ट्रांसफॉर्मर, हॉल एलिमेंट सेंसर या फोटोइलेक्ट्रिक कन्वर्जन डिवाइस द्वारा निकाला जा सकता है।ये तरीके
हालांकि अलगाव अच्छा है, यह 20 kHz विद्युत संकेत के लिए तरंग विरूपण और अतिरिक्त चरण बदलाव की विभिन्न डिग्री उत्पन्न करेगा, जिससे बिजली माप और चरण कोण माप की सटीकता सुनिश्चित करना मुश्किल हो जाता है।यह आलेख वोल्टेज सिग्नल प्रोसेसिंग के लिए आनुपातिक एम्पलीफायर का उपयोग करता है, एम्पलीफायर इनपुट प्रतिरोध 5. 1 एम का उपयोग करता है, यह पहलू इनपुट सिग्नल क्षीणन, बाद के सर्किट के लिए उच्च दबाव संरक्षण बना सकता है, और एम्पलीफायर इनपुट प्रतिबाधा के परिणामस्वरूप बहुत अधिक है अल्ट्रासोनिक जनरेटर के सिग्नल स्रोत प्रतिरोध, अल्ट्रासोनिक जनरेटर काम करने की स्थिति का कोई प्रभाव नहीं पड़ता है।
AD637 का उपयोग वोल्टेज RMS माप के लिए किया जाता है।यह एक एसी-डीसी आरएमएस कनवर्टर है जिसमें उच्च अपवर्तन सटीकता और व्यापक आवृत्ति बैंड है, और रूपांतरण तरंग से स्वतंत्र है।यह एक सच्चा आरएमएस कनवर्टर है।अधिकतम त्रुटि लगभग 1% है।जब तरंग कारक 1 ~ 2 होता है, तो कोई अतिरिक्त त्रुटि उत्पन्न नहीं होती है।
1.2 प्रभावी वर्तमान मूल्य का मापन
इस पेपर में विकसित वर्तमान आरएमएस डिटेक्शन सर्किट 0 ~ 2 ए, 20 किलोहर्ट्ज़ ± 3 किलोहर्ट्ज़ के साइनसॉइडल विरूपण के साथ वर्तमान सिग्नल का पता लगा सकता है।श्रृंखला में जुड़े मानक नमूना प्रतिरोध को एफआईजी में अल्ट्रासोनिक जनरेटर के लोड लूप को अपनाकर।1, करंट को पहले इसके आनुपातिक वोल्टेज सिग्नल में परिवर्तित किया जाता है।चूंकि नमूना प्रतिरोध एक शुद्ध प्रतिरोधक उपकरण है, यह वर्तमान तरंग विरूपण या अतिरिक्त चरण बदलाव नहीं लाएगा, ताकि माप सटीकता सुनिश्चित हो सके।करंट के समानुपाती वोल्टेज सिग्नल को RMS AC-DC कन्वर्टर AD637 द्वारा एनालॉग वोल्टेज सिग्नल में बदल दिया जाता है, जो डिजिटल मीटर हेड और कंप्यूटर को दो तरह से आउटपुट होता है।रूपांतरण सिद्धांत आरएमएस वोल्टेज रूपांतरण के समान है।
1.3 सक्रिय शक्ति का मापन
सक्रिय पावर मापन सिग्नल वोल्टेज और करंट के आरएमएस मापन मॉड्यूल में क्षीण वोल्टेज और आई/वी ट्रांसफॉर्म्ड सिग्नल से आता है।शक्ति माप मॉड्यूल का मूल AD534 एनालॉग गुणक और फिल्टर सर्किट है।तात्कालिक वोल्टेज को वर्तमान प्रवाह गुणक से गुणा करने के बाद, वास्तविक सक्रिय शक्ति प्राप्त करने के लिए उच्च आवृत्ति वाले घटक को फ़िल्टर किया जाता है।
1. 4 वर्तमान और वोल्टेज के बीच चरण अंतर का मापन
अल्ट्रासोनिक ट्रांसड्यूसर के इनपुट वोल्टेज और करंट के बीच चरण अंतर को शून्य-क्रॉसिंग तुलनित्र के माध्यम से इनपुट वोल्टेज और वर्तमान संकेतों को वर्ग तरंगों में आकार देकर और फिर XOR लॉजिक प्रोसेसिंग के माध्यम से चरण अंतर को संश्लेषित करके मापा जाता है।क्योंकि न केवल वोल्टेज और करंट के बीच का अंतर है, बल्कि लेड और लैग के बीच का अंतर भी है, मिंग यांग ने लीड और लैग संबंध की पहचान करने के लिए एक टाइमिंग सर्किट भी तैयार किया है।अगर आपको कोई जरूरत है तो कृपया हमसे संपर्क करें।
1.5 आवृत्ति माप
आवृत्ति माप मॉड्यूल एकल चिप माइक्रो कंप्यूटर 8051 को गोद लेता है, मानक क्रिस्टल आवृत्ति का उपयोग करके, एक निश्चित सिग्नल अवधि में क्रिस्टल पल्स सिग्नल गिनती, 1 एमएस के भीतर महसूस किया जा सकता है, आवृत्ति 20 किलोहर्ट्ज़ है, त्रुटि 2 हर्ट्ज से अधिक नहीं है।आवृत्ति माप परिणाम 16-बिट बाइनरी नंबरों द्वारा आउटपुट होते हैं, कंप्यूटर I/O कार्ड में इनपुट होते हैं, और सॉफ़्टवेयर प्रोग्रामिंग द्वारा दशमलव वास्तविक आवृत्ति मानों में परिवर्तित होते हैं।
अल्ट्रासोनिक प्लास्टिक वेल्डिंग तात्कालिक और दबाव में पूरी होती है, और वेल्डिंग प्रक्रिया तेज, जटिल, कठिन और बहु-पैरामीटर प्रभाव की विशेषताओं को दर्शाती है।वेल्डिंग के दौरान और बाद में, काफी तनाव और विरूपण (वेल्डिंग अवशिष्ट विरूपण, वेल्डिंग संकोचन, वेल्डिंग ताना-बाना) का उत्पादन किया जाएगा, और वेल्डिंग प्रक्रिया में उत्पन्न गतिशील तनाव और वेल्डिंग अवशिष्ट तनाव, लेकिन वर्कपीस और वेल्डिंग दोषों के विरूपण को भी प्रभावित करते हैं।
यह वर्कपीस संरचना की वेल्डेबिलिटी और भंगुर फ्रैक्चर ताकत, थकान शक्ति, उपज शक्ति, कंपन विशेषताओं आदि को भी प्रभावित करता है।विशेष रूप से वेल्डिंग वर्कपीस मशीनिंग सटीकता और आयामी स्थिरता को प्रभावित करते हैं।वेल्डिंग थर्मल तनाव और विरूपण की समस्या बहुत कठिन है, दूरदर्शिता के बिना, पूरे वेल्डर के यांत्रिक गुणों पर वेल्डिंग के प्रभाव का व्यापक रूप से अनुमान और विश्लेषण नहीं कर सकता है, और वेल्डिंग गुणवत्ता का निष्पक्ष मूल्यांकन कर सकता है।साथ ही, कई महत्वपूर्ण डेटा, अर्थात् प्रभाव, को पारंपरिक तरीकों से सीधे नहीं मापा जा सकता है।
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पोस्ट करने का समय: अक्टूबर-20-2022